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高低溫試驗(yàn)箱 高低溫測(cè)試機(jī)

所屬分類:高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱

產(chǎn)品型號(hào):GT-TH-S-150Z

更新時(shí)間:2024-10-16

描述:高低溫試驗(yàn)箱 高低溫測(cè)試機(jī)主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

詳細(xì)信息
品牌高天/Gaotian產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)
加工定制

   高低溫試驗(yàn)箱  高低溫測(cè)試機(jī)主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

技術(shù)參數(shù)

溫度范圍: -70℃~+100℃(150℃)

濕度范圍: 20%~98%R.H.(10%-98%R.H/5%~98%R.H為特殊選用條件)

溫濕度解析精度/均勻度: ±0.1℃;±0.1%R.H./ ±1.0℃;±3.0%R.H.

溫濕度控制精度/波動(dòng)度: ±1.0℃;±2.0%R.H./ ±0.5℃;±2.0%R.H.

升溫/降溫時(shí)間: 約4.0℃/分鐘;約1.0℃/分鐘(每分鐘下降5~10℃為特殊選用條件)

內(nèi)外部材質(zhì): 全機(jī)為SUS 304#不銹鋼板霧面處理,內(nèi)箱為不銹鋼

保溫材質(zhì): 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材質(zhì)

冷卻系統(tǒng): 風(fēng)冷式/單段壓縮機(jī)(-20℃)

保護(hù)裝置: 無熔絲開關(guān)、壓縮機(jī)過載保護(hù)開關(guān)、冷媒高低壓保護(hù)開關(guān)、超濕度超溫保護(hù)開關(guān)、保險(xiǎn)絲、故障警告系統(tǒng)

配件: 記錄器(選購(gòu))、觀視窗、50mm測(cè)試孔、PL箱內(nèi)燈、隔板、干濕球紗布

控制器: TEMI300數(shù)字控制器

壓縮機(jī): “泰康"牌

電源: 1Φ 220VAC±10% 50/60Hz


高低溫試驗(yàn)箱  高低溫測(cè)試機(jī)優(yōu)勢(shì)

制冷機(jī)采用原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。

冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。

升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率,降低測(cè)試成本,增長(zhǎng)壽命,減低故障率。

溫度控制采用全觸摸按鍵式儀表,操作設(shè)定簡(jiǎn)單。

資料及試驗(yàn)條件輸入后,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。

具有P.I.D自動(dòng)演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

滿足標(biāo)準(zhǔn):

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

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